|
Productdetails:
|
| Oppervlakterichtlijn: | A-vliegtuig (11-20) | Productnaam: | 50mm Sapphire Substrate Wafer |
|---|---|---|---|
| Materiaal: | Hoge zuiverheidsal ₂ O ₃ (>99.995%) | Dikte: | 430 ± 10 μm |
| R-vliegtuig: | R9 | Diameter: | 50.8 ±0.10 |
| Markeren: | Sapphire Substrate 440um,enig kristalsaffier 50mm,Een Vliegtuig Sapphire Substrate |
||
50mm Sapphire Substrate Wafer Thk 430μm VAN Lengte (Mm) 16 LEIDENE Spaander
JDCD08-001-001 diameter 50mm het wafeltje van het Saffiersubstraat, Thk 430μm, kristalrichtlijn C/M0.2, VAN lengte (mm) 16 LEIDENE spaander, substraatmateriaal
Het materiaal wordt gekweekt en georiënteerd, en de substraten worden vervaardigd en aan een uiterst vlotte schade vrije epi-Klaar oppervlakte aan één of beide kanten van het wafeltje opgepoetst. Een verscheidenheid van wafeltjerichtlijnen en grootte tot“ diameter 6 zijn beschikbaar.
A-vlakke saffiersubstraten - gewoonlijk voor hybride micro-electronische toepassingen gebruikt worden die een eenvormige diëlektrische constante en hoogst het isoleren kenmerken vereisen.
C-vlakke substraten - neig om voor lll-v en samenstellingen ll-Vl, zoals GaN, voor heldere blauwe en groene leiden en laserdioden worden gebruikt.
R-vlakke substraten - deze hebben voor het hetero-epitaxial die deposito van silicium de voorkeur in micro-electronische IC-toepassingen wordt gebruikt.
|
Parameters |
Specificatie | ||
| Eenheid | Doel | Tolerantie | |
| Materiaal | Hoge zuiverheidsal2o3 (>99.995%) | ||
| Diameter | mm | 50.8 | ±0.10 |
| Dikte | μm | 430 | ±10 |
| Oppervlakterichtlijn | A-vliegtuig (11-20) | ||
| - Van Hoek naar m-As | graad | 0,00 | ±0.10 |
| - Van Hoek naar a-As | graad | 0,00 | ±0.10 |
| Vlakke Richtlijn | C-vliegtuig (0001) | ||
| - Vlakke Compensatiehoek | graad | 0,0 | ±0.2 |
| Vlakke Lengte | mm | 16.0 | ±1 |
| R-vliegtuig | R9 | ||
| Vooroppervlakteruwheid (Ra) | NM | <0.3 | |
| Achteroppervlakteruwheid | μm | 0.9~1.2μm | |
| Vooroppervlaktekwaliteit | Opgepoetste spiegel, EPI-Klaar | ||
| Wafeltjerand | R-type | ||
| Afkantingsomvang | μm | 80-160 | |
| Inbegrepen hoekradiant tussen vlakke rand en ronde rand | mm | R=9 | |
| TTV | μm | ≤5 | |
| LTV (5x5mm) | μm | ≤1.5 | |
| Boog | μm | 0~-5 | |
| Afwijking | μm | ≤10 | |
| Laserteken | Als vereiste klant | ||
Ongeveer ons
Wij specialiseren ons in de verwerking van een verscheidenheid van materialen in wafeltjes, substraten en aangepast optisch die glas parts.components wijd op elektronika, optica, opto elektronika en veel andere gebieden worden gebruikt. Wij hebben ook nauw met vele binnenlandse en overzee universiteiten, onderzoeksinstellingen samengewerkt en de bedrijven, verlenen aangepaste producten en de diensten voor hun R&D-projecten. Het is onze visie aan het handhaven van een goede verhouding van samenwerking met onze alle klanten door onze goede reputaties.
FAQ
Q: Bent u handelsmaatschappij of fabrikant?
Wij zijn fabriek.
Q: Hoe lang is uw levertijd?
Over het algemeen is het 3-5 dagen als de goederen in voorraad zijn.
of het is 7-10 dagen als de goederen niet in voorraad zijn, is het volgens hoeveelheid.
Q: Verstrekt u steekproeven? is het extra vrij of?
Ja, konden wij de steekproef voor vrije last aanbieden maar betalen niet de kosten van vracht.
Q: Wat is uw betalingsvoorwaarden?
Betalings <>
betaling >=5000USD, 80% T/T vooraf, saldo vóór verzending.
Contactpersoon: Xiwen Bai (Ciel)
Tel.: +8613372109561
