Dutch

English

French

German

Italian

Russian

Spanish

Portuguese

Dutch

Greek

Japanese

Korean

Arabic

Turkish

Polish

Vraag een offerte aan |

Thuis Producten

Sapphire Wafer

CHINA Sapphire Wafer

Spiegel Opgepoetste Sapphire Wafer EPI Klaar Front Surface

Oppervlakterichtlijn:A-vliegtuig (11-20)

Materiaal:Hoge zuiverheidsal ₂ O ₃ μm (>99.995%)

Dikte:430 ±10μm
JDCD08-001-003 2 inch M vlakke saffier substraat wafer

Oppervlakterichtlijn:M-vliegtuig (1010)

Dikte:430 ± 10 μm

Vlakke Richtlijn:A-vliegtuig (11-20)
JDCD08-001-002 2 inch A-Plane Sapphire Substrate Wafer

Oppervlakterichtlijn:A-vliegtuig (11-20)

Dikte:430 ± 10 μm

R-vliegtuig:R9
JDCD08-001-007 8 inch C-vliegtuig saffiersubstraatwafer

Materiaal:Hoge zuiverheidsal2o3 (>99.995%)

Oppervlakterichtlijn:C-vliegtuig (0001)

R-vliegtuig:R9
Het c-Vliegtuig Sapphire Substrate Wafer van JDCD08-001-006 6inch

Materiaal:Hoge zuiverheidsal2o3 (>99.995%)

Oppervlakterichtlijn:C-vliegtuig (0001)

Dikte:625 ±15μm
JDCD08-001-005 4 inch R-vliegtuig saffiersubstraatwafer

Materiaal:Hoge zuiverheidsal2o3

Diameter:100.0±0.2mm

Dikte:460±25μm
Het r-Vliegtuig Sapphire Substrate Wafer van JDCD08-001-004 2inch

Oppervlakterichtlijn:R-vliegtuig, 0 ± 0,1 °

Vlakke Richtlijn:C op R,CCW45±1°

Dikte:500±15 μm

Page 2 of 2|< << 1 2 >> >|

Bladeren door rubrieken：

GaN Epitaxial Wafer
Sic Epitaxial Wafeltje
GaAs Epi-wafel
CVD diamantsubstraten
Snel thermisch uitgloeisysteem
Hall-effect sensortester
Het Wafeltje van het aluminiumnitride
De Spaander van de laserdiode
Het Kristal van het siliciumcarbide
Ga2O3 Wafeltje
siliciumwafeltje
Sapphire Wafer
Gevormde Sapphire Substrates
wafeltjehouder
Wafelsnijmachine

Over

GaN Epitaxial Wafer: 2inch het Type van het Gezichtsfe Gesmeerde Si van GaN Epitaxial Wafer C Vrije Status; Fe Gesmeerd GaN Substrates Resistivity > 10 ⁶ Ω·De Apparaten van cm rf; 2 inch vrijstaande SI-GaN-substraten

Sic Epitaxial Wafeltje: Afschuining SiC epitaxiaal wafeltje 150,0 mm +0 mm/-0,2 mm 350,0um ± 25,0 um; 4H Kristalvorm SiC Epitaxiaal Wafeltje Wafeltje Rand Afschuining 350.0um ± 25.0um; Enig het c-Gezicht van het Kristal sic Epitaxial Wafeltje Optisch Pools Si-Gezicht CMP

LAAT BERICHT ACHTER

Privacybeleid | CHINA Goed Kwaliteit GaN Epitaxial Wafer Leverancier. © 2023 - 2025 epi-wafers.com. All Rights Reserved.