Bericht versturen
Thuis ProductenHet Kristal van het siliciumcarbide

4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi

Certificaat
CHINA Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. certificaten
Ik ben online Chatten Nu

4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi

4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi
4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi

Grote Afbeelding :  4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi

Productdetails:
Modelnummer: JDZJ01-001-001
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Verpakking Details: Verpakt in een cleanroom in een enkele zaadcontainer
Levertijd: 3-4 weekdagen

4H Politype Enig Crystal Silicon Carbide 4“ p-het Gezicht van Rangsi

beschrijving
Politype: 4h Diameter: 100,0 mm ± 0,5 mm
Richtlijn: 4,0° ± 0,2° Primaire Vlakke Richtlijn: {10-10} ±5.0°
Primaire platte lengte: 32,5 mm ± 2,0 mm Secundaire Vlakke Richtlijn: Si-gezicht: 90°cw.from primaire flat±5°
Markeren:

carbide 4 van het enig kristalsilicium“

,

N type kristallijn siliciumcarbide

,

het gezicht van het carbidesi van het enig kristalsilicium

JDZJ01-001-001 sic Zaadkristal 4“ p-Rang Si-Gezicht 90°Cw.From Primaire Flat±5°

Sic Zaadkristal 4“ PGrade

De fysieke en elektronische eigenschappen van sic maken tot het het belangrijkste halfgeleidermateriaal voor korte golflengte optoelectronic, op hoge temperatuur, stralingbestendige, en hoge macht/elektronische apparaten met hoge frekwentie.

6inch sic baarspecificaties
Rang Productierang Proefrang
Politype 4H
Diameter 100.0mm±0.5mm
Dragertype N-type
Weerstandsvermogen 0.015~0.028ohm.cm
Richtlijn 4.0°±0.2°
Primaire Vlakke Richtlijn {10-10} ±5.0°
Primaire Vlakke Lengte 32.5mm±2.0mm
Secundaire Vlakke Richtlijn Si-gezicht: 90°cw.from primaire flat±5°
Secundaire Vlakke Lengte 18.0mm±2.0mm
Randbarsten door hoge intensiteitslicht ≤1mm in radiaal ≤3mm in radiaal
Hexuitdraaiplaten door hoge intensiteitslicht Size<1mm, Cumulatieve area<1% Cumulatieve area<5%
Polytypegebieden door hoge intensiteitslicht Niets ≤5%area
MicroPipedichtheid Het is het vernietigende testen. Als om het even welk meningsverschil, de steekproeven voor leverancier zou moeten door de klant worden verstrekt opnieuw test.

Het is het vernietigende testen. Als om het even welk meningsverschil, de steekproeven voor leverancier zou moeten door de klant worden verstrekt opnieuw test.

Randspaander ≤1 met maximumlengte en breedte 1 mm ≤3 met maximumlengte en breedte 3 mm

Ongeveer ons

Wij specialiseren ons in de verwerking van een verscheidenheid van materialen in wafeltjes, substraten en aangepast optisch die glas parts.components wijd op elektronika, optica, opto elektronika en veel andere gebieden worden gebruikt. Wij hebben ook nauw met vele binnenlandse en overzee universiteiten, onderzoeksinstellingen samengewerkt en de bedrijven, verlenen aangepaste producten en de diensten voor hun R&D-projecten. Het is onze visie aan het handhaven van een goede verhouding van samenwerking met onze alle klanten door onze goede reputaties.

FAQ

Q: Bent u handelsmaatschappij of fabrikant?
Wij zijn fabriek.
Q: Hoe lang is uw levertijd?
Over het algemeen is het 3-5 dagen als de goederen in voorraad zijn.
of het is 7-10 dagen als de goederen niet in voorraad zijn, is het volgens hoeveelheid.
Q: Verstrekt u steekproeven? is het extra vrij of?
Ja, konden wij de steekproef voor vrije last aanbieden maar betalen niet de kosten van vracht.
Q: Wat is uw betalingsvoorwaarden?
Betalings <> betaling >=5000USD, 80% T/T vooraf, saldo vóór verzending.

Contactgegevens
Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

Contactpersoon: Xiwen Bai (Ciel)

Tel.: +8613372109561

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)