Dutch
English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
Türkçe
Polski
Vraag een offerte aan
|
Zoeken
Huis
Producten
Video's
Over ons
Fabriekstocht
Kwaliteitscontrole
Neem contact met ons op
Nieuws
Gevallen
Sorry! This product is no longer available.
Let's see if there are any related products that interest you
Aanbevolen producten
SP-Face 11-12 Niet-gedopt N-type vrijstaand GaN enkelkristallig substraat Resistiviteit 0,05 Ω·cm Macro-defectdichtheid 0cm−2
JDCD10-001-002 2 inch GaAs (100) Si gedopte substraten
JDCD10-001-003 2 inch GaAs ((100) Zn gedopte substraten
JDCD10-001-004 2 inch GaAs (111) Si-gedopte substraten
JDCD10-001-005 2 inch GaAs ((111) Zn gedopte substraten
JDCD04-001-007 10x10mm2(010)Sn-gedoteerd vrijstaand Ga2O3 enkelvoudig kristalsubstraat Productkwaliteit enkel polijsten
JDCD04-001-003 10x10mm2 100 ((Off 6°) Fe gedopeerd vrijstaand Ga2O3 enkelkristallig substraat Productkwaliteit enkelpolijst
JDCD04-001-002 10x10mm2 (- 201) Sn-Gesmeerde Free-Standing Ga2O3 kiest het Enige Oppoetsen van Crystal Substrate Product Grade uit
350 ± 25 μm Dikte Niet-gedopt, vrijstaand GaN-eenkristallig substraat van het N-type met TTV ≤ 10 μm en resistiviteit 0,1 Ω·cm
5*10mm2 SP-Face Ongedopte N-type vrijstaande GaN enkelkristallijn Substraat 20-21 / 20-2-1 10mm2 Resistiviteit 0,05 Ω·cm
JDCD06-001-005 6-inch Silicon Wafer MEMS-apparaten geïntegreerde schakelingen toegewijde substraten voor discrete apparaten
JDCD06-001-004 5-inch Silicon Wafer MEMS apparaten geïntegreerde schakelingen Dedicated Substraten voor discrete apparaten
10*10,5mm2 C-Face Fe-Doped SI-type vrijstaand GaN enkelkristallig substraat Macro-defect Dichtheid 0cm−2 TTV ≤ 10 μm Resistiviteit 106 Ω·Cm RF-apparaten Wafer
JDCD06-001-006 8-inch Silicon Wafer MEMS-apparaten geïntegreerde schakelingen toegewijde substraten voor discrete apparaten
JDCD06-001-007 12-inch Silicon Wafer MEMS apparaten geïntegreerde schakelingen toegewijde substraten voor discrete apparaten
Vermogenstoestel 5x10 mm2 Niet-gedopt N-type vrijstaand GaN-eenkristallig substraat met resistiviteit 0,1 Ω·cm en BOW binnen 10 μm
5x10mm2 SP-Face 10-11 Niet-gedopte N-type vrijstaande GaN-enkelkristallen substraat met TTV ≤ 10μm Resistiviteit 0,05 Ω·cm
5*10mm2 SP-Face 10-11 Niet-gedopte N-type vrijstaande GaN enkelkristallijn Substraat 0,1 Ω·cm Resistiviteit voor energieapparaat
Macro-defectdichtheid 0cm−2 Niet-gedopte SI-type vrijstaande GaN enkelkristallijnsubstraat voor RF-apparaten 5*10mm2 M-face
TTV ≤ 10μm A-face niet-gedopte N-type vrijstaande GaN enkelkristallig substraat Resistiviteit 0,1 Ω·cm Vermogen apparaat/laser W